WLP-216平均粒度儀是一種廣泛應(yīng)用于顆粒物料測量和分析的儀器，適用于各類物質(zhì)的粒度分布、顆粒形態(tài)等特性參數(shù)的測量。主要采用光散射原理進行分析測試。當(dāng)光線照射到樣品中的固體顆粒時，部分光線被顆粒所折射，部分光線被顆粒所散射。這些散射的光子會向各個方向發(fā)散，產(chǎn)生散射光，并呈現(xiàn)出不同的相位差。當(dāng)這些散射光聚集起來時，就可以通過檢測儀器進行信號捕捉和數(shù)據(jù)計算。
 

　　多角度散射指的是光線與顆粒發(fā)生散射時不同角度的變化。不同的角度對應(yīng)著不同的粒子大小。多角度散射技術(shù)能夠提供更高的散射強度，從而提高粒度檢測的靈敏度和準確度。同時也降低了顆粒形狀對檢測結(jié)果的影響。樣品在進行平均粒度儀測量之前需要經(jīng)過一定的處理。在液體顆粒的測試中，需要進行樣品制備，在樣品中加入分散劑以避免顆粒聚集。在固體顆粒的測試中，需要將顆粒充分研磨或分散以達到更好的測試效果。此外，還需要根據(jù)不同的顆粒特性選擇不同的測試模式和參數(shù)。
 

　　通過電子信號輸出的方式得出測試結(jié)果。由于不同的粒子具有不同的屬性，因此從不同的角度進行數(shù)據(jù)的收集，并結(jié)合統(tǒng)計學(xué)原理進行數(shù)據(jù)的加權(quán)平均，得出測試結(jié)果，包括顆粒尺寸、顆粒形態(tài)等。被廣泛應(yīng)用的先進物料科學(xué)測試儀器之一，它具有高精度、準確性高、自動化程度高等優(yōu)點，同時也成為了材料科學(xué)研究、生產(chǎn)工藝設(shè)計和產(chǎn)品質(zhì)量控制的必要工具。

 

　　WLP-216平均粒度儀的維護保養(yǎng)方法：
 

　　1.在使用過程中會受到灰塵、臟污等環(huán)境因素的影響，應(yīng)該定期將設(shè)備清洗干凈。在清潔前需要斷開電源，并根據(jù)說明書逐步進行拆卸，將內(nèi)部的各個部件清理干凈，避免出現(xiàn)遺漏。注意不得使插頭與插座接觸部位進入水中。
 

　　2.傳感器是測量儀器精度的關(guān)鍵部件之一。因此，在正式測量前，需要對傳感器進行檢查，確定其是否正確連接、靈敏度是否合理、觸點是否老化等情況，并進行必要的處理。
 

　　3.由于長時間使用，性能可能會發(fā)生變化。定期進行儀器校準以確保儀器始終按實際要求準確測量。在校準儀器的過程中，需要用到標準樣品和校準液，應(yīng)避免雜質(zhì)進入樣品中。
 

　　4.對各個部件進行逐條檢查，例如電纜、插頭等，注意是否有老化或破損現(xiàn)象，確認設(shè)備使用情況良好。